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掃描隧道顯微鏡作為一種掃描探針顯微術(shù)工具，掃描隧道顯微鏡可以讓科學(xué)家觀察和定位單個(gè)原子，它具有比它的同類原子力顯微鏡更加高的分辨率。此外，掃描隧道顯微鏡在低溫下(4K)可以利用探針尖部精確操縱原子，因此它在納米科技既是重要的測(cè)量工具又是加工...

原子力顯微鏡提供原子或近原子解析度的表面形貌圖像，能夠定量樣品的表面粗糙度到＂?＂等級(jí)。除了提供表面圖像之外，AFM也可以提供形態(tài)的定量測(cè)量，如高度差和其他尺寸。可提供三維表面形態(tài)影像，包括表面粗糙度、粒徑大小、高度差和間距，其他樣品特性的...

金相顯微鏡是對(duì)金屬材料的金相組織進(jìn)行分析的重要光學(xué)儀器。金相學(xué)主要指借助光學(xué)（金相）顯微鏡和體視顯微鏡等對(duì)材料顯微組織、低倍組織和斷口組織等進(jìn)行分析研究和表征的材料學(xué)科分支，既包含材料顯微組織的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的樣品制備、...

目前AFM的工作方式有三種，分別是接觸模式，非接觸模式和敲擊模式。接觸模式：就是利用探針與材料表面直接接觸來(lái)獲得材料結(jié)構(gòu)和形貌信息的方式，這樣的方式測(cè)試出來(lái)的圖像分別率高，但是很容易損傷測(cè)試材料的表面，探針也會(huì)受到材料的污染，同時(shí)可能會(huì)因?yàn)?..

原子力顯微鏡(AFM)是一種掃描探針顯微鏡(SPM)，其分辨率在納米量級(jí)，比光學(xué)衍射極限高1000倍以上。信息是通過(guò)用機(jī)械探針“感覺(jué)”或“觸摸”表面來(lái)收集的。壓電元件有助于根據(jù)(電子)命令進(jìn)行微小但精確的移動(dòng)，從而實(shí)現(xiàn)精確掃描。探針對(duì)樣品施...

產(chǎn)品對(duì)比多模式原子力顯微鏡頭掃描原子力顯微鏡FM-Nanoview1000AFMFM-NanoviewLS-AF將我司基礎(chǔ)型原子力顯微鏡(FM-Nanoview1000AFM)和探頭掃描式原子力顯微鏡(FM-NanoviewLS-AFM)做...